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薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

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發(fā)布時間:2024-10-22 11:00:01
描述
薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 核心參數(shù)
Q值范圍 2~1023 頻率范圍 70MHZ

產(chǎn)品特點

介質(zhì)損耗測試裝置與精密數(shù)字電橋配用,能對薄膜和各種板材絕緣材料進行高低頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

詳細介紹

薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀1.Q值測量范圍:2~1023

2.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;

3.電感測量范圍:自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能4.5nH-100mH 分別有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成。

4.電容直接測量范圍:1~460pF                                                

5.主電容調(diào)節(jié)范圍: 30~500pF                                            

6.電容準確度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%                                                                   7.信號源頻率覆蓋范圍10KHz-70MHz (雙頻對向搜索  確保頻率不被外界干擾)另有GDAT-C 頻率范圍10KHz-70MHz及200KHZ-160M

薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

1  測量范圍及誤差

 本電橋的環(huán)境溫度為20±5℃,相對濕度為30%-80%條件下,應滿足下列表中的技術(shù)指示要求。

  在Cn=100pF    R4=3183.2(W)(即10K/π)時

    測量項目       測量范圍             測量誤差               

    電容量Cx       40pF--20000pF      ±0.5%  Cx±2pF     

    介質(zhì)損耗tgd      0~1              ±1.5%tgdx±0.0001

    在Cn=100pF      R4=318.3(W)(即1K/π)時

    測量項目       測量范圍             測量誤差               

    電容量Cx       4pF--2000pF      ±0.5%  Cx±3pF     

    介質(zhì)損耗tgd      0~0.1          ±1.5%tgdx±0.0001

2  電橋測量靈敏度

    電橋在使用過程中,靈敏度直接影響電橋平衡的分辨程度,為保證測量準確度,希望電橋靈敏度達到一定的水平。通常情況下電橋靈敏度與測量電壓,標準電容量成正比。在下面的計算公式中,用戶可根據(jù)實際使用情況估算出電橋靈敏度水平,在這個水平上的電容與介質(zhì)損耗因數(shù)的微小變化都能夠反應出來。

 DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)   

         式中:U為測量電壓                     伏特(V)

ω為角頻率 2pf=314(50Hz)                            

          Cn標準電容器容量                    皮法(pF)

          Ig通用指另儀的電流5X10-10            安培(A)

          Rg平衡指另儀內(nèi)阻約1500              歐姆(W)

          R4橋臂R4電阻值3183                 歐姆(W)

          Cx被測試品電容值                    皮法(pF)

3 電容量及介損顯示精度:

    電容量: ±0.5%×tgδx±0.0001。

    介  損: ±0.5%tgdx±1×10-4

4 輔橋的技術(shù)特性:

    工作電壓±12V,50Hz

    輸入阻抗>1012 W

    輸出阻抗>0.6 W

    放大倍數(shù)>0.99

    不失真跟蹤電壓  0~12V(有效值)

5 指另裝置的技術(shù)特性:

    工作電壓±12V

    在50Hz時電壓靈敏度不低于1X10-6V/格, 電流靈敏度不低于2X10-9A/格

    二次諧波  減不小于25db

    三次諧波  減不小于50db

特點:優(yōu)化的測試電路設計使殘值更小◆ 高頻信號采用數(shù)碼調(diào)諧器和頻率鎖定技術(shù)◆ LED 數(shù)字讀出品質(zhì)因數(shù),手動/自動量程切換◆ 自動掃描被測件諧振點,標頻單鍵設置和鎖定,大大提高測試速度

作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。1 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。4 自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。6 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。7 計算機自動修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低,徹底 Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

標準配置:高配Q表 一只  試驗電極  一只 (c類)電感      一套(9只)電源線    一條說明書    一份合格證    一份保修卡    一份

為什么介電常數(shù)越大,絕緣能力越強?因為物質(zhì)的介電常數(shù)和頻率相關(guān),通常稱為介電系數(shù)。

介電常數(shù)又叫介質(zhì)常數(shù),介電系數(shù)或電容率,它是表示絕緣能力特性的一個系數(shù)。所以理論上來說,介電常數(shù)越大,絕緣性能就越好。

注:這個性質(zhì)不是成立的。

對于絕緣性不太好的材料(就是說不擊穿的情況下,也可以有一定的導電性)和絕緣性很好的材料比較,這個結(jié)論是成立的。

但對于兩個絕緣體就不一定了。

介電常數(shù)反映的是材料中電子的局域(local)特性,導電性是電子的全局(global)特征.不是一回事情的。

補充:電介質(zhì)經(jīng)常是絕緣體。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各種金屬氧化物。有些液體和氣體可以作為好的電介質(zhì)材料。干空氣是良好的電介質(zhì),并被用在可變電容器以及某些類型的傳輸線。蒸餾水如果保持沒有雜質(zhì)的話是好的電介質(zhì),其相對介電常數(shù)約為80。

對于時變電磁場,物質(zhì)的介電常數(shù)和頻率相關(guān),通常稱為介電系數(shù)。介電常數(shù)又叫介質(zhì)常數(shù),介電系數(shù)或電容率,它是表示絕緣能力特性的一個系數(shù)

宏觀結(jié)構(gòu)不均勾性的介質(zhì)損耗

工程介質(zhì)材料大多數(shù)是不均勻介質(zhì)。例如陶瓷材料就是如此,它通常包含有晶相、玻璃相和氣相,各相在介質(zhì)中是統(tǒng)計分布口。由于各相的介電性不同,有可能在兩相間積聚了較多的自由電荷使介質(zhì)的電場分布不均勻,造成局部有較高的電場強度而引起了較高的損耗。但作為電介質(zhì)整體來看,整個電介質(zhì)的介質(zhì)損耗必然介于損耗大的一相和損耗小的一相之間。

表征:

電介質(zhì)在恒定電場作用下,介質(zhì)損耗的功率為

  W=U2/R=(Ed)2S/ρd=σE2Sd

定義單位體積的介質(zhì)損耗為介質(zhì)損耗率為

ω=σE2

在交變電場作用下,電位移D與電場強度E均變?yōu)閺蛿?shù)矢量,此時介電常數(shù)也變成復數(shù),其虛部就表示了電介質(zhì)中能量損耗的大小。

D,E,J之間的相位關(guān)系圖

D,E,J之間的相位關(guān)系圖

如圖所示,從電路觀點來看,電介質(zhì)中的電流密度為

J=dD/dt=d(εE)/dt=Jτ+iJe

式中Jτ與E同相位。稱為有功電流密度,導致能量損耗;Je,相比較E超前90°,稱為無功電流密度。

定義

tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ

式中,δ稱為損耗角,tanδ稱為損耗角正切值。

損耗角正切表示為獲得給定的存儲電荷要消耗的能量的大小,是電介質(zhì)作為絕緣材料使用時的重要評價參數(shù)。為了減少介質(zhì)損耗,希望材料具有較小的介電常數(shù)和更小的損耗角正切。損耗因素的倒數(shù)Q=(tanδ)-1在高頻絕緣應用條件下稱為電介質(zhì)的品質(zhì)因素,希望它的值要高。

工程材料:離子晶體的損耗,離子晶體的介質(zhì)損耗與其結(jié)構(gòu)的緊密程度有關(guān)。

緊密結(jié)構(gòu)的晶體離子都排列很有規(guī)則,鍵強度比較大,如α-Al2O3、鎂橄欖石晶體等,在外電場作用下很難發(fā)生離子松弛極化,只有電子式和離子式的位移極化,所以無極化損耗,僅有的一點損耗是由漏導引起的(包括本質(zhì)電導和少量雜質(zhì)引起的雜質(zhì)電導)。這類晶體的介質(zhì)損耗功率與頻率無關(guān),損耗角正切隨頻率的升高而降低。因此,以這類晶體為主晶相的陶瓷往往用在高頻場合。如剛玉瓷、滑石瓷、金紅石瓷、鎂橄欖石瓷等

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